华测检测参加IPCCEMAC2012中国电子制造年会

• 来源期刊: 认证技术
• 学科: 经济
• 关键词: 电子制造业 年会 中国 检测 上海光大会展中心 市场发展趋势 国际酒店 IPC
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 关注行业发展
• 页码范围: 30-30
• 页数: 1页
• 分类号: F426.63
• 字数: 1111字
• 语种: 中文

摘要

近日,华测检测参加了在上海光大会展中心国际酒店举行的IPC CEMAC 2012中国电子制造年会,该会议邀请了世界各地的业界专家和领导者,深入剖析全球电子制造业的技术和市场发展趋势,同时向与会者呈现了电子制造业迫切需要的前沿技术和最新应用。