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LabVIEW 的电子设备故障检测系统
LabVIEW 的电子设备故障检测系统
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摘要：
结合测试系统理论和虚拟仪器技术的研究,提出了以 PXI 检测设备为核心的 LabVIEW8.5的专用综合测试系统.系统以 LabVIEW 为软件开发平台,用图形化程序语言设计了系统对电子设备测试的各个模块程序流程图以及源代码.该测试系统可以有效地缩短维修周期,降低维护成本,提高维护的可靠性,使电子设备故障系统的检测水平实现数字化、模块化和智能化
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研究主题发展历程
节点文献
LabVIEW
电子设备
PXI
故障
检测
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机系统应用
主办单位：
中国科学院软件研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1003-3254
CN：
11-2854/TP
开本：
大16开
出版地：
北京中关村南四街4号
邮发代号：
82-558
创刊时间：
1991
语种：
chi
出版文献量（篇）
10349
总下载数（次）
20
总被引数（次）
57078
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