并行折叠计数器的BIST方案

• 作者: 易茂祥 李鑫 梁华国 王伟 陈田
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 线性反馈移位寄存器 并行折叠计数器 多扫描链 测试数据压缩
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 1030-1033
• 分类号: TN407
• 字数: 3218字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2012.05.027

摘要

本文提出了一种新的基于初始状态的并行折叠计数结构,并给出了建议的多扫描链的BIST方案.与国际上同类方法相比,该方案需要更少的测试数据存储容量、更短的测试应用时间,其平均测试应用时间是同类方案的0.265％,并且能很好地适用于传统的EDA设计流程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	王伟	合肥工业大学计算机与信息学院	162	1275	18.0	27.0
3	易茂祥	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	109	559	12.0	19.0
4	李鑫	合肥工业大学计算机与信息学院	66	265	8.0	12.0
5	陈田	合肥工业大学计算机与信息学院	18	99	7.0	9.0