基于新型光栅传感器的微位移测量

• 作者: 杨春振 白立新
• 来源期刊: 传感器与微系统
• 学科: 工学
• 关键词: 光栅传感器 莫尔条纹 线位移 角位移 线性度 精确度
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 计算与测试
• 页码范围: 123-125
• 分类号: TP212
• 字数: 1696字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-9787.2012.07.038

摘要

实验将新型光栅传感器应用于微位移测量之中.通过比较线(角)位移与莫尔条纹移动个数之间的关系,实验发现,在微位移测量中光栅传感器具有极好的线性度(R2≥0.999)和精确度(误差≤2.0％).实验验证了光栅传感器在微位移测量中可行性和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白立新	四川大学物理科学与技术学院	48	338	10.0	17.0
2	杨春振	四川大学物理科学与技术学院	4	22	3.0	4.0