基于IEEE 1500标准的模拟核外壳的设计

• 作者: 柴华 江志强 颜学龙
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 模拟核 IEEE Std 1500 测试外壳
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 所属期刊栏目: 算法、设计与应用
• 页码范围: 2536-2538,2545
• 分类号: TP206
• 语种: 中文

摘要

在系统芯片SoC测试中,模拟核的可靠性测试是现在亟待解决的一个重要问题；针对此问题,主要对Wrapper测试壳结构进行设计,在此标准的基础上增加了AD和DA的转换器,既保留了原来应有的测试标准和方法,同时增加了用数字信号来测试模拟信号的方法；通过用Quartus Ⅱ软件和PSpice软件的联合仿真下,证明了基于1500标准的外壳设计可以对模拟核进行测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	柴华	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	4	9	2.0	2.0
3	江志强	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	5	13	2.0	3.0