ZnO纳米线阵列修饰对材料表面浸润性调控

• 作者: 曹建国 焦杨 白晋涛 经光银 罗昊
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 化学
• 关键词: ZnO薄膜 ZnO纳米线阵列 粗糙度 浸润性 接触角
• 年，卷（期）: 2012,（15）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 2083-2086
• 页数: 4页
• 分类号: O647.5
• 字数: 1475字
• 语种: 中文

摘要

采用溶胶-凝胶法制备了ZnO薄膜,利用溶剂热沉积法获得大面积均匀ZnO纳米线阵列。通过对水在ZnO材料表面的浸润性研究,发现薄膜材料表面的粗糙度对ZnO膜亲水性有增强作用,而周期性ZnO阵列微结构表面可以实现其疏水性质增强效果。同时从理论上分析了这两种现象的物理机制,讨论了空气填隙对ZnO纳米线阵列表面的浸润性质的敏感性。制备出ZnO纳米线阵列的表观接触角约为103°,具有较强的疏水性质,可为进一步的ZnO光流控研究提供实验基础。