嵌入式系统抗干扰技术研究

• 作者: 张宇红 李英 温上捷 王健
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 嵌入式系统 抗干扰 可靠性
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 测试测量技术
• 页码范围: 18-19
• 页数: 2页
• 分类号: TP368.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2012.06.005

摘要

嵌入式系统的可靠性是描述其性能的重要指标,而嵌入式系统的抗干扰能力直接关系到自身的可靠性,抗干扰技术则是保证嵌入式系统可靠性的重要技术。该文基于嵌入式系统,分析了它可能面对的干扰,深入探讨了相应的硬件和软件抗干扰技术。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王健	中国工程物理研究院流体物理研究所	29	117	6.0	10.0
2	温上捷	中国工程物理研究院流体物理研究所	12	28	4.0	5.0
3	李英	中国工程物理研究院流体物理研究所	5	7	1.0	2.0
4	张宇红	中国工程物理研究院流体物理研究所	8	10	2.0	3.0