干式空心并联电抗器多起损坏原因分析

• 作者: 王耀龙
• 来源期刊: 电气技术
• 学科: 工学
• 关键词: 干式空心并联电抗器 故障 分析
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 技术与应用
• 页码范围: 55-57
• 页数: 3页
• 分类号: TM47
• 字数: 1281字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3800.2012.07.031

摘要

近年来干式空心电抗器损坏频繁，从损坏发生时间段上分析，多为运行时间不长的设备。本文结合多起干式空心电抗损坏案例，对损坏的现象及原因进行了分析，提出了措施。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王耀龙		7	97	4.0	7.0