自动测试系统中矩阵开关的设计与应用

• 作者: 唐博 庄永科 白泰礼
• 来源期刊: 自动化信息
• 学科: 工学
• 关键词: 矩阵开关 测试系统 译码器 开关阵列 现场可编辑门阵列(FPGA)
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 页码范围: 44-45
• 页数: 2页
• 分类号: TN911.3

摘要

开关系统是整个自动测试系统的中心，其灵活性、可靠性决定了测试系统的灵活性和可靠性。本文介绍了一种应用译码器配合开关阵列研制的高灵活性、可靠性的矩阵开关结构，采用FPGA作为实现控制逻辑的核心部件，有效地节约了测试成本并提高了测试效率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白泰礼	电子科技大学航空航天学院	15	164	5.0	12.0
2	唐博	电子科技大学航空航天学院	12	58	3.0	7.0
3	庄永科	电子科技大学航空航天学院	1	0	0.0	0.0