电容层析成像系统中的数字相敏解调技术

• 作者: 侯敏 张彩霞 王化祥 韩路军 马敏
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电容层析成像 数字相敏解调 FPGA Verilog
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 所属期刊栏目: 数据采集与处理
• 页码范围: 11-15
• 分类号: TP23
• 字数: 4210字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2012.09.004

摘要

相敏解调是电容层析成像(ECT)系统中的关键环节.传统的模拟解调存在着精度低、噪声大和模拟器件的稳定时间过长等问题,成为进一步提高ECT系统精度和速度的“瓶颈”.为此,设计了一种基于FPGA的数字相敏解调方法,实现了快速、高精度的有符号数字相敏解调.验证显示,设计的数字化相敏解调完全满足ECT系统对精度和速度的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王化祥	天津大学电气与自动化工程学院	212	2676	24.0	36.0
2	马敏	中国民航大学航空自动化学院	64	283	10.0	12.0
3	韩路军	中国民航大学航空自动化学院	3	11	2.0	3.0
4	侯敏	中国民航大学航空自动化学院	4	13	2.0	3.0
5	张彩霞	中国民航大学航空自动化学院	3	29	3.0	3.0