基于多信号模型的测试性分析方法研究

• 作者: 梁力 许辉
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 多信号模型 测试性分析 故障—测试依存矩阵
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 914-916,920
• 分类号: TP311.52
• 语种: 中文

摘要

多信号模型是一种简单而有效的建模表示方法,用于系统测试性分析、故障诊断等；在产品结构的基础上以分层有向图表示信号流向和各组成单元的连接关系,通过定义组成单元、信号、故障模式、测试等建立多信号模型,获取故障与测试之间的相关性来实现对产品的测试性分析；结合示例介绍了多信号模型的表示方法,给出故障—测试依存矩阵以及未检测故障、模糊组、冗余测试、隐藏故障、冒充故障、故障检测率和故障隔离率的具体分析过程和算法；算法分析结果与应用TADS软件分析结果相一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许辉		1	19	1.0	1.0
2	梁力		3	19	1.0	3.0