温度修正方法对晶体硅光伏组件测试精度的影响性研究

• 作者: 万俊鹏 周小红 姜文娟 张昌远 田永兴
• 来源期刊: 太阳能
• 学科: 经济
• 关键词: 太阳电池 晶体硅 温度修正
• 年，卷（期）: 2012,（17）
• 所属期刊栏目: 技术与产品
• 页码范围: 32-34,46
• 分类号: F2
• 字数: 2361字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0417.2012.17.009

摘要

根据GB/T 6495.4-1996《晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法》,以及不确定度分析方法,并通过实验和理论分析得出,使用温度修正方法可放宽硅光伏组件测试的温度要求,同时具有较好的测试精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张昌远		2	5	2.0	2.0
2	万俊鹏		2	5	2.0	2.0
3	姜文娟		1	3	1.0	1.0
4	田永兴		1	3	1.0	1.0
5	周小红		1	3	1.0	1.0