基于偏振光反射多点法测量薄膜参数

• 作者: 周进朝 宋亚杰 曾宪佑 王泽斌 黄佐华
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 折射率 厚度 偏振光 反射
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 薄膜
• 页码范围: 140-144
• 页数: 5页
• 分类号: O436
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201239.1207002

摘要

依据偏振光反射原理和多角度测量的多点拟合算法,实现了对薄膜材料折射率和厚度的精确测量.将高准直半导体激光入射到薄膜样品与空气分界面上,逐步旋转样品或改变样品表面的入射角,得到待测样品的反射率随入射角变化曲线.在曲线上取不同入射角处所对应的反射率,根据计算公式求解出多组薄膜厚度和折射率.利用已测量的多组反射率与求解出的薄膜参数相应反射率拟合后可确定出薄膜参数最优解.在求出的薄膜参数附近拓展一定范围再次拟合,可求出更精确的薄膜参数.基于此方法测量了SiO2薄膜的折射率和厚度,测量折射率误差不超过0.3％,厚度误差不超过0.07％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄佐华		63	586	13.0	22.0
2	曾宪佑		6	34	3.0	5.0
3	周进朝		9	22	3.0	4.0
4	宋亚杰		2	7	1.0	2.0
5	王泽斌		3	6	1.0	2.0