半导体PN结温度特性实验

• 作者: 周党培 陈业仙
• 来源期刊: 实验室科学
• 学科: 物理学
• 关键词: PN结 伏安特性 波尔兹曼常数 反向饱和电流 物理实验
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 100-103,107
• 分类号: O475
• 字数: 4511字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-4305.2012.01.031

摘要

讨论了不同温度下PN结的正向压降和伏安特性的测量方法,设计了利用TH-J型PN结正向压降温度特性测试仪研究PN结正向压降及伏安特性曲线随温度变化的实验,定性分析了PN结正向压降及伏安特性随温度变化的规律；利用Excel进行曲线拟合测定了正向压降随温度变化的灵敏度、玻尔兹曼常数以及PN结的反向饱和电流,从而定量描述了PN结的伏安特性,取得了较为准确的实验结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈业仙	五邑大学教务处	15	150	5.0	12.0
2	周党培	五邑大学物理实验中心	12	74	4.0	8.0