FPGA单粒子效应的脉冲激光试验方法研究

• 作者: 上官士鹏 姜昱光 封国强 朱翔 韩建伟 马英起
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 脉冲激光 单粒子效应 FPGA 多位翻转 翻转截面
• 年，卷（期）: 2012,（z1）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 582-586
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

通过测试基于静态随机存储器(SRAM)的现场可编程门阵列(FPGA)芯片的单粒子效应,研究脉冲激光的试验方法,评估脉冲激光试验单粒子效应的有效性.研究表明,激光光斑聚焦深度和激光注量是影响脉冲激光单粒子效应试验的重要因素.试验发现,脉冲激光在较高能量时,单个激光脉冲会触发多个配置存储位发生单粒子翻转,造成芯片饱和翻转截面偏大.激光辐照芯片时,观察到芯片的内核工作电流以1～2 mA的幅度逐渐增加,在此期间器件工作正常.试验获得了Virtex-2 FPGA芯片的静态单粒子翻转截面和翻转阈值.通过对比激光与重离子的试验结果发现,二者在测试器件单粒子翻转方面基本一致,脉冲激光可有效研究芯片的单粒子效应特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩建伟	中国科学院空间科学与应用研究中心	90	549	14.0	18.0
2	封国强	中国科学院空间科学与应用研究中心	22	139	6.0	10.0
3	上官士鹏	中国科学院空间科学与应用研究中心	12	54	4.0	6.0
4	马英起	中国科学院空间科学与应用研究中心	12	69	5.0	8.0
5	朱翔	中国科学院空间科学与应用研究中心	14	27	4.0	4.0
6	姜昱光	中国科学院空间科学与应用研究中心	5	12	2.0	3.0