晶闸管烧坏的真实原因解析

• 作者: 陈妍
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 晶闸管 DV DT di DT 开通时间 关断时间
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 页码范围: 19-20
• 页数: 2页
• 分类号: TN34

摘要

文中从专业的角度介绍了晶闸管在工作过程中烧坏的真实原因，解开了以往从表面现象而判断晶闸管烧坏的误区。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈妍		4	3	1.0	1.0