Laue弯晶聚焦特性的光线追迹研究

• 作者: 佟亚军 肖体乔 谢红兰 陈灿
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线光学 Laue弯晶 聚焦特性 光线追迹
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 电磁学、光学、声学、传热学、经典力学和流体动力学
• 页码范围: 156-164
• 分类号: O435
• 语种: 中文

摘要

由于可有效降低高热负载的影响，Laue弯晶是插入件辐射高通量密度硬X射线（30keV以上）聚焦、准直和单色化的最有效的光学元件．研究其聚焦光学特性，对发展高性能、高稳定的Laue弯晶单色器具有重要意义．采用自行发展的光线追迹软件较为系统地研究了Laue弯晶的聚焦特性，分析了入射光性质及弯晶参数对聚焦光斑、焦距、发散度等主要光学参数的影响．结果表明，衍射能量越高，聚焦光斑越小，并趋于稳定值；弯曲半径越小，聚焦光斑越小，并在其达到一阈值时得到聚焦光斑的极小值，之后随着弯曲半径的变小，由于像差等因素的影响，聚焦光斑反而变大；晶体越厚，聚焦光斑越大，呈线性正比关系．对于衍射光发散度，其随着衍射能量的增大而变小，并趋于稳定值；其与晶体曲率呈线性正比关系．同时通过研究得到弯晶各参数的合理选择范围．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖体乔	中国科学院上海应用物理研究所	64	403	11.0	17.0
2	谢红兰	中国科学院上海应用物理研究所	36	150	6.0	11.0
3	佟亚军	中国科学院上海应用物理研究所	9	14	2.0	3.0