扫描探针显微镜对纳米尺度铁电畴极化反转的研究

• 作者: 赵素玲
• 来源期刊: 实验室研究与探索
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描探针显微镜 铁电畴 电畴极化反转
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 16-18,71
• 分类号: TB321
• 字数: 3647字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7167.2012.04.005

摘要

利用扫描探针显微镜( SPM)的压电响应模式(PFM)和电场力响应模式(EFM)对PbTiO3/Pb( Zro.3Tio.7) OJPbTiO3(PT/PZT/PT)夹心结构铁电薄膜的自发极化与纳米尺度电畴反转行为进行了研究.SPM的PFM对薄膜电畴的极化反转研究表明,在相同的有限电压下,薄膜的电畴因不同结构而不能全部反转而取向一致；同时,不对称电极产生的内建电压(场)会导致不同方向上极化反转电压的不同.SPM的EFM不宜用来研究铁电薄膜的自发极化电畴结构,但对电畴的取向极化有较高的区分度,适于研究电畴的取向极化.经正电压极化后,极化的区域呈高电势的亮区；经负电压极化后,表现为低电势的暗亮度区域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵素玲	武汉理工大学材料研究与测试中心材料复合新技术国家重点实验室	24	156	7.0	11.0