磁盘存储测试技术研究

• 作者: 孙鉴 李战怀 段升强 王乐晓 王惠峰 贺秦禄
• 来源期刊: 计算机科学
• 学科: 工学
• 关键词: 海量存储 磁盘阵列 性能测试
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 1-5
• 分类号: TP393
• 字数: 6063字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-137X.2012.06.001

摘要

研究了测试海量存储系统中磁盘阵列IOPS、数据传输率两项性能指标的技术与方法,提出了针对高性能磁盘阵列的并行测试技术,并使用此方法实现了对最新研制的高性能磁盘阵列的评测.通过研究影响单个磁盘性能指标的各项因素,并借助实验对其进行量化分析,最终实现了对整个磁盘阵列的性能评测.研究了影响磁盘阵列整体性能的关键瓶颈点,并给出了各项测试结果的合理性证明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李战怀	西北工业大学计算机学院	254	2139	21.0	35.0
2	段升强	西安建筑科技大学信息网络中心	11	47	4.0	6.0
3	王惠峰	西北工业大学计算机学院	8	50	5.0	7.0
4	孙鉴	西北工业大学计算机学院	8	49	5.0	7.0
5	贺秦禄	西北工业大学计算机学院	6	42	3.0	6.0
6	王乐晓	西北工业大学计算机学院	3	17	2.0	3.0