基于FPGA的智能误码测试仪

• 作者: 刘瑞兰 唐维智
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA m序列 HDB3编译码 位同步 误码率
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 应用开发研究
• 页码范围: 149-152,156
• 分类号: TP39
• 字数: 3628字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2012.03.039

摘要

现有的大多数市售误码仪无法完成对实际工作中大量存在的特殊信道的误码测试,文中实现了一种基于FPGA的多接口码型、多传输速率的误码测试仪的设计.先从误码测试仪的基本原理框图入手,介绍它的各个功能子模块的作用,并侧重分析了误码测试仪的一些关键模块的工作原理及具体实现方法.在此基础上还给出了一种新的实现误码率统计的运算方法,使得系统用较少的逻辑资源实现了对误码测试结果的计算.误码仪选用了单片机和FPGA作为核心器件,提高它的升级和可移植能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘瑞兰	南京邮电大学自动化学院	29	257	9.0	15.0
2	唐维智	南京邮电大学自动化学院	1	4	1.0	1.0