耦合腔高频特性的单腔模型研究与应用

• 作者: 何俊 刘濮鲲 郝保良 黄明光
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 耦合腔 色散特性 耦合阻抗 电磁仿真
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 所属期刊栏目: 高功率微波
• 页码范围: 1931-1935
• 分类号: TN124
• 字数: 2721字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20122408.1931

摘要

在耦合腔结构的高频特性模拟中,基于准周期边界条件法建立的双腔模型,由于两端电场的边界条件完全相同,导致了伪解的出现.本文建立了单腔仿真模型,消除了伪解存在的边界条件,避免伪解的出现.在保证求解精度的基础上,网格数目减少了62％,总计算时间缩小了56％,一次性生成色散曲线和耦合阻抗曲线,提高了色散和耦合阻抗的数据处理效率,为高频结构参数优化提供了更有效的途径.采用单腔仿真模型,模拟分析了各结构尺寸对高频特性的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘濮鲲	中国科学院电子学研究所	116	943	13.0	22.0
2	何俊	中国科学院电子学研究所	49	561	14.0	23.0
3	黄明光	中国科学院电子学研究所	19	52	5.0	6.0
4	郝保良	中国科学院电子学研究所	18	87	6.0	8.0