基于熵权分析的电子设备测试性指标评估

• 作者: 丁健 朱颖 王东
• 来源期刊: 机电信息
• 学科: 数学
• 关键词: 熵权分析 电子设备测试性 指标评估
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 所属期刊栏目: 设计与分析
• 页码范围: 126-127
• 页数: 2页
• 分类号: O236
• 字数: 2418字
• 语种: 中文

摘要

从熵权理论入手,阐述了电子设备测试性指标评估的标准与步骤,然后利用模糊层次分析法对电子设备测试性指标进行分析和计算,通过最终的权重数据体现熵权分析的可行性与优势。案例表明,基于熵权分析的电子设备测试性指标评估不但计算量小,而且操作简单易行。