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基于Object-Z与Markov链的校园卡系统测试用例
基于Object-Z与Markov链的校园卡系统测试用例
作者:
仲晓敏
侯建花
杨长青
原文服务方:
微电子学与计算机
校园卡系统
Object-Z
测试场景
Markov链
使用模型
测试用例
摘要:
针对提高校园卡系统准确性和可靠性测试的要求,提出了Object-Z与Markov链结合的测试用例自动生成算法.使用Object-Z对系统进行形式化规约,生成测试场景和操作顺序图;将操作顺序图转换为Markov链使用模型;根据测试场景和Markov链使用模型生成数量相对合理的测试用例.该方法无需对系统进行运行,在需求分析与测试阶段就能对系统的功能进行测试.生成的校园卡系统测试用例证明该方法是有效的,并且在提高测试覆盖率的同时,使用Markov链也能保证对系统的可靠性测试.
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基于Z语言的测试用例形式化描述方法研究
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文献信息
篇名
基于Object-Z与Markov链的校园卡系统测试用例
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
校园卡系统
Object-Z
测试场景
Markov链
使用模型
测试用例
年,卷(期)
2012,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
73-77
页数
分类号
TP311
字数
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
杨长青
淮海工学院理学院
9
34
3.0
5.0
2
侯建花
淮海工学院理学院
10
34
3.0
5.0
3
仲晓敏
淮海工学院计算机工程学院
13
38
4.0
5.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
校园卡系统
Object-Z
测试场景
Markov链
使用模型
测试用例
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
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