原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
针对提高校园卡系统准确性和可靠性测试的要求,提出了Object-Z与Markov链结合的测试用例自动生成算法.使用Object-Z对系统进行形式化规约,生成测试场景和操作顺序图;将操作顺序图转换为Markov链使用模型;根据测试场景和Markov链使用模型生成数量相对合理的测试用例.该方法无需对系统进行运行,在需求分析与测试阶段就能对系统的功能进行测试.生成的校园卡系统测试用例证明该方法是有效的,并且在提高测试覆盖率的同时,使用Markov链也能保证对系统的可靠性测试.
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基于Z语言的测试用例形式化描述方法研究
软件测试
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形式化描述
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文献信息
篇名 基于Object-Z与Markov链的校园卡系统测试用例
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 校园卡系统 Object-Z 测试场景 Markov链 使用模型 测试用例
年,卷(期) 2012,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 73-77
页数 分类号 TP311
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨长青 淮海工学院理学院 9 34 3.0 5.0
2 侯建花 淮海工学院理学院 10 34 3.0 5.0
3 仲晓敏 淮海工学院计算机工程学院 13 38 4.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
校园卡系统
Object-Z
测试场景
Markov链
使用模型
测试用例
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
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0
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