基于SIFT算法的PCB板基准点匹配

• 作者: 叶峰 潘长开 田学军
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: SIFT算法 基准点 匹配 平移误差
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 图形图像处理
• 页码范围: 84-86
• 分类号: TN919-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.12.028

摘要

当PCB板上载到夹具过程中,由于夹具精度,人为等因素的影响,对基板坐标产生一定偏移及旋转的影响,从而对元器件装贴精度产生影响,因此对基准点进行特征提取,但具有比较大的局限性.由此提出一种基于尺度空间的SIFT算法的Mark点匹配方法,将图像上特征转化为尺度空间特征,可以只对一个Mark点进行匹配校正,消除电路板平面上平移误差和旋转误差,通过实验证明其精度能达到0.6个像素以下的亚像素级别的精度要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶峰	华南理工大学机械与汽车工程学院	64	801	14.0	25.0
2	田学军	湛江师范学院基础教育学院	6	36	4.0	6.0
3	潘长开	华南理工大学机械与汽车工程学院	3	9	2.0	3.0