一种基于串行移位的测试数据生成方法

• 作者: 刘铁桥 蔡烁 邝继顺
• 来源期刊: 计算机科学
• 学科: 工学
• 关键词: 测试生成 串行移位 分段移位 测试数据压缩 测试应用时间
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 体系结构
• 页码范围: 298-300,封3
• 分类号: TP331
• 字数: 3922字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-137X.2012.11.072

摘要

针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出了一种延长扫描链的串行移位测试数据生成方法.以确定性测试生成算法为基础,充分利用测试集中的无关位X,让扫描链自行移位产生测试向量完成电路的测试.对整体串行移位和分段移位两种情况进行了实验,结果表明,经此方法生成而最终需施加至待测电路的测试数据量小于其他一些经典的测试方法的；而整体移位和分段移位分别在数据压缩效果和测试时间方面各具优势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝继顺	湖南大学信息科学与工程学院	82	418	11.0	16.0
2	蔡烁	湖南大学信息科学与工程学院	18	26	3.0	4.0
6	刘铁桥	湖南大学信息科学与工程学院	8	22	3.0	4.0