基于IGBT的短路试验开关的仿真研究

• 作者: 傅正财 李雷 洪尧生 陈坚
• 来源期刊: 电气技术
• 学科: 工学
• 关键词: 抗短路试验 IGBT开关 IGBT并联均流
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 8-12
• 页数: 5页
• 分类号: TM564
• 字数: 4255字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3800.2012.06.009

摘要

本文针对抗短路试验中传统机械开关合闸时间分散性较大的情况,提出用IGBT作为试验开关的解决方案。分析了以IGBT模块为基础的全控开关在交流应用中可能出现的电流不平衡问题。Matlab/Simulink仿真验证了串联电阻对并联IGBT模块的均流具有显著效果。IGBT作为无触点式开关,具有开关速度快的特点,应用IGBT作为抗短路试验开关,可以满足相关标准对抗短路试验严格的相位控制和时间要求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	傅正财	上海交通大学电气工程系电力传输与功率变换控制教育部重点实验室	97	1097	17.0	30.0
2	李雷	上海交通大学电气工程系电力传输与功率变换控制教育部重点实验室	20	113	6.0	10.0
3	陈坚	上海交通大学电气工程系电力传输与功率变换控制教育部重点实验室	47	311	10.0	16.0
4	洪尧生		2	8	2.0	2.0