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原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
为了研制应用于跌落试验等环境试验的存储测试系统,利用高速A/D转换芯片AD7654结合SoC片上系统C8051F340逻辑时序控制的方法来实现200KSPS采样速率的系统指标要求.AD7654是AD公司推出的一款低功耗、四通道、电荷再分布式、16位500KSPS高速A/D转换器.在此介绍了AD7654的主要特点、工作原理和逻辑时序,并为了实现并行存储测试的实际需要,设计了AD7654与SoC片上系统以及非易失性存储器的接口电路,并给出相应了相应的A/D中断服务程序.该提供的方法对类似的项目有一定参考价值.
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文献信息
篇名 高速AD7654转换器及其在存储测试系统中的应用
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 AD7654 高速A/D转换器 存储测试系统 SoC
年,卷(期) 2012,(4) 所属期刊栏目 集成电路设计
研究方向 页码范围 156-158
页数 分类号 TN792-34
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.04.049
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张毅 中国工程物理研究院总体工程研究所 37 187 8.0 12.0
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研究主题发展历程
节点文献
AD7654
高速A/D转换器
存储测试系统
SoC
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
总下载数(次)
0
总被引数(次)
135074
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