基于IEEE Std1500的IP核并行测试控制架构设计

• 作者: 李广进 牛金涛 陈圣俭 高华
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: IEEE 1500标准 IP核 外壳 测试访问机制 并行
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 2338-2340,2344
• 分类号: TP391.76
• 语种: 中文

摘要

随着IEEE 1500标准的不断推广应用,兼容该标准的IP核也越来越多,具有IEEE 1500标准结构的IP核也被越来越多的应用到片上系统的设计中；由于IEEE 1500标准定义了外壳架构和测试访问机制,因此如何实现片上系统中IP核的外壳架构和测试访问机制的测试控制便成为研究的热点问题；文章在研究标准的基础上,基于外壳架构和CAS-BUS测试访问机制,提出IP核的并行测试控制架构,通过多IP核的仿真时序图分析,验证了测试控制架构的有效性；该架构能够实现多IP核的并行测试控制,节约了测试时间,提高了测试效率,为片上系统的测试控制提供一种新思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高华	装甲兵工程学院控制工程系	6	14	2.0	3.0
2	李广进	装甲兵工程学院控制工程系	7	20	3.0	4.0
3	牛金涛	装甲兵工程学院控制工程系	1	2	1.0	1.0