二极管静态热阻测量系统的设计

• 作者: 常伯仪
• 来源期刊: 消费电子
• 学科: 工学
• 关键词: 热阻测量 封装技术 可靠性测试
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 电子科技
• 页码范围: 19-20
• 页数: 2页
• 分类号: TP31
• 字数: 2855字
• 语种: 中文

摘要

二极管静态热阻测量是半导体封装技术可靠性测试的关键测量参数,由此可以衍生出Mosfet、IGBT、GTR等多种材料的测量方法,是半导体器件生产过程中的功率循环等后期可靠性试验的关键输入参数,从而对产品本身的质量和寿命评估具有非常重要的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常伯仪		2	1	1.0	1.0