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FPGA嵌入式测试方法研究
FPGA嵌入式测试方法研究
原文服务方：
计算机测量与控制
摘要：
FPGA器件的高密度化,高集成度,使得电路板越来越复杂,从外部对电路板的结构和功能执行测试变得更加困难,因此需要通过对FPGA实现嵌入式测试以便有效降低测试的难度；文中首先对FPGA的嵌入式测试的特点进行了概述,然后针对以FPGA为核心的常见电路进行了嵌入式测试方法研究,并介绍了其核心技术边界扫描测试原理,探讨了具体的实现方案,最后根据其特点简要分析了其应用前景.
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FPGA
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期刊影响力
计算机测量与控制
主办单位：
中国计算机自动测量与控制技术协会
出版周期：
月刊
ISSN：
1671-4598
CN：
11-4762/TP
开本：
大16开
出版地：
北京市海淀区阜成路甲8号
邮发代号：
创刊时间：
1993-01-01
语种：
汉
出版文献量（篇）
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