氢化物发生-原子荧光法测定地化样品中痕量锗

• 作者: 饶丹华
• 来源期刊: 四川建材
• 学科: 工学
• 关键词: 氢化物发生-原子荧光法 地化样品 锗
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 勘察与测绘
• 页码范围: 181,185
• 页数: 2页
• 分类号: TD865
• 字数: 2735字
• 语种: 中文

摘要

本试验采用AFS2201型原子荧仪,测定地球物理化学样品中的痕量.本方法线性范围0 ～ 500μg/ml,测定下限为0.035×10-6,精密度为1.5％.样品加标回收率98.2～103.2％,经标准样品进行验证,方法准确可靠.