DDS技术在高频石英晶体测试系统中的应用

• 作者: 彭翠悦 王艳林
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 石英晶体 串联谐振频率 π网络零相位法 DDS AD9912
• 年，卷（期）: 2012,（22）
• 所属期刊栏目: 电子测量与仪器
• 页码范围: 151-154
• 分类号: TN919-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.22.046

摘要

在此介绍了一种以DDS芯片AD9912作为信号源的高频石英晶体测试系统.AD9912是一款直接数字频率合成芯片.一方面,AD9912内部时钟速度可高达1 GSPS,并集成了14位数/模转换器,可以直接输出400 MHz信号；另一方面,AD9912的频率控制字为48位,可以小于4μHz的分辨率输出信号.由于采用了DDS芯片AD9912作为信号源,所设计的石英晶体测试系统能够在20 kHz～400 MHz范围内测试石英晶体的串联谐振频率.与国内目前普遍使用的基于振荡器和阻抗计测试方法的测试仪相比,该测试系统具有测试频率范围宽、重复精度高等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王艳林		32	89	6.0	7.0
2	彭翠悦		1	5	1.0	1.0