方孔微通道板结构缺陷对成像质量的影响

• 作者: 何飞 李旭 李达 陈波
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 成像系统 X射线光学 微通道板 光线追迹 结构缺陷
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 成像系统
• 页码范围: 84-93
• 页数: 10页
• 分类号: TH744|O434
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201232.1011001

摘要

方孔微通道板(MCP)作为一种新型X射线波段光学成像系统,因其具有大视场、高分辨率、能够收集大量辐射并将其准直或聚焦等优点,越来越多地受到了人们的关注.但在MCP制作和加工过程中,难免会使微通道产生一定的结构缺陷,对其成像质量造成严重的影响.利用Tracepro软件建立了标准方孔MCP模型和具有不同结构缺陷的MCP模型,并基于蒙特卡罗(MTC)光线追迹方法对这些模型进行模拟成像.分别讨论了Taper型、Twist型和Nonsquare型结构缺陷对成像质量的影响.然后以溴钨灯作为光源,在可见光波段对实验室现有的4块方孔MCP进行了成像实验,所得实验结果与模拟结果基本吻合,验证了模拟结果的正确性.模拟和实验结果表明,以上3种结构缺陷均会造成十字像中央亮斑面积增大、强度降低等情况,所不同的是Taper型结构缺陷使会聚光线分裂成两条,而这两组平行的会聚线相交形成4个焦点,其能量要比单一聚焦能量衰减很多,从而对成像质量影响更大.该研究为今后研究曲面MCP和基于MCP的X射线光学系统奠定了重要基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈波	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	167	1116	17.0	24.0
2	李达	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	15	80	5.0	8.0
3	李旭	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	48	370	9.0	18.0
4	何飞	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	26	277	7.0	16.0