K-均值聚类算法在电容器外观图像分割中的应用

• 作者: 孙克辉 洪天勤
• 来源期刊: 计算机系统应用
• 学科: 工学
• 关键词: 电容器 K-均值 粗糙集 图像分割
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 188-191
• 分类号: TM53|TP391.41
• 字数: 3364字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3254.2012.02.043

摘要

电容器是电子整机产品的必要器件.由于制造工艺及设备水准的限制,露白是一种常见的电容器外观缺陷.基于K-均值聚类算法,结合露白电容器外观图像的特点,提出了电容器露白区域分割算法.根据Ohta等人的研究成果,选取能有效表示彩色特征的彩色特征集中的第一个分量,用来替代K-均值聚类图像分割中的灰度；确定分类类别数为两类,采取了粗糙集理论的算法,求出初始聚类中心和间距阈值.实验表明,该图像分割算法能有效分割出电容器图像的露白区域,具有较好的精确度和准确度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙克辉	中南大学物理科学与技术学院	123	1745	24.0	35.0
2	洪天勤	中南大学物理科学与技术学院	1	3	1.0	1.0