ICP-OES测定电路板制造废水中的铜、镍和锡

• 作者: 吴银菊 康晓宇 朱奕 许雄飞 谭菊 龙加洪
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: 电感耦合等离子体-发射光谱法 铜 镍 锡 电路板制造废水
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 页码范围: 2208-2211
• 分类号: X832|O657.31
• 字数: 2514字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2012.04.060

摘要

建立了电感耦合等离子体-发射光谱法测定电路板制造废水中铜、镍和锡的方法,研究了消解方法及分析谱线的选择.该方法与国标原子吸收光谱法比较结果无显著性差异.方法应用于不同浓度电路板制造废水的测定,铜、镍和锡的方法检出限分别为0.006、0.005、0.008mg/L,加标回收率分别为91.6％-102.6％、93.0％-105.0％、92.6％％-101.8％,相对标准偏差分别为0.7％-2.6％、1.5％-4.5％、1.1％-3.2％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许雄飞		40	338	10.0	17.0
2	朱奕		10	196	6.0	10.0
3	吴银菊		12	171	6.0	12.0
4	龙加洪		10	182	6.0	10.0
5	谭菊		21	171	5.0	13.0
6	康晓宇		1	5	1.0	1.0