不同病害胁迫下大豆的光谱特征及识别研究

• 作者: 刘益青 李一凡 蒋金豹 郭海强 陈云浩
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 农学
• 关键词: 大豆 病害胁迫 光谱特征 连续统去除 J-M距离 识别
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 页码范围: 2775-2779
• 分类号: O657.3|S127
• 字数: 3991字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2012)10-2775-05

摘要

在英国诺丁汉大学Sutton Bonington校区(52.8°N,1.2°W)实测感染锈病与普通花叶病大豆的单叶光谱数据,利用连续统去除法对原始光谱数据进行处理,筛选对病害及锈病严重度敏感的波段,构建植被指数对感染锈病与普通花叶病及不同严重度锈病的大豆进行识别研究.研究发现普通花叶病胁迫下的大豆光谱反射率在可见光区域均大于健康大豆的,而锈病胁迫的大豆光谱反射率在绿光区随病情严重度增加而减小,在红光区随病情严重增强而增大.根据大豆光谱变化特征设计了一个植被指数R500×R550/R680对大豆病害进行识别,通过计算不同病害及不同严重度之间的J-M距离对指数识别病害能力进行检验,结果表明指数R500×R550/R680能够较好的识别出大豆锈病与普通花叶病,且该指数在识别大豆锈病严重度方面也有较强的能力.研究结果对农作物病害遥感监测与防治具有重要的理论价值与实际应用意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈云浩	北京师范大学资源学院	157	6733	43.0	78.0