阵列型微波黑体的发射率分析

• 作者: 白明 苗俊刚 金铭
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 黑体 发射率 Floquet模式 微波辐射计
• 年，卷（期）: 2012,（16）
• 所属期刊栏目: 电磁学、光学、声学、传热学、经典力学和流体动力学
• 页码范围: 267-275
• 分类号: TN958
• 字数: 4930字
• 语种: 中文

摘要

在微波波段，用于标定温度和辐射功率的发射率接近于1的标准发射率器件，即微波频段的黑体，结构形式一般为表面涂覆吸波材料的金属锥体阵列．这种黑体器件常用于为微波辐射计提供参考亮温，要求具有高发射率和均匀的温度分布．对此类黑体器件的发射率评估主要基于基尔霍夫热平衡定律，即通过评估反射率来确定发射率．已报道的研究集中在黑体发射率随频率的变化趋势，较少针对其随方向和极化状态的变化趋势．本文针对此类周期型排布的黑体，提出基于Floquet模式分析的反射率评估方法，相比己报道的基于后向散射的评估方法，具有更大的适用范围．基于这种方法，对某黑体的发射率随频率、角度和极化状态的变化规律进行了计算分析．分析结果表明：此黑体发射率在X到K。波段内随频率提高而增大；在发射率较低的低频处，垂直极化与水平极化的发射率随俯仰角的变化趋势不同，并且存在垂直极化发射率随俯仰角增大而明显降低的现象．这些规律均与其物理上低频段内涂层对电磁波的衰减特性相符合．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白明	北京航空航天大学电子信息工程学院	40	215	6.0	14.0
2	金铭	北京航空航天大学电子信息工程学院	2	2	1.0	1.0
3	苗俊刚		2	2	1.0	1.0