基于OpenCV的石英晶片污垢检测技术研究

• 作者: 宋文宁 李东
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: OpenCV 石英晶片 轮廓提取 污垢检测
• 年，卷（期）: 2012,（22）
• 所属期刊栏目: 电子测量与仪器
• 页码范围: 155-157
• 分类号: TN919-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.22.047

摘要

污垢检测是石英晶片缺陷检测的重要组成部分.为实现比较理想的污垢检测,采用基于开源计算机视觉库OpenCV的图像处理技术对石英晶片污垢缺陷进行检测.在此通过依次对图像进行平滑去噪、二值化阈值分割、轮廓提取和跟踪等处理,计算出轮廓的周长,将有缺陷与无缺陷晶片轮廓进行比较,为晶片污垢检测提供依据.实验结果表明在Visual Studio 2008环境下,利用OpenCV库函数缩短了大量编程时间,提高了工作效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李东		55	144	7.0	8.0
2	宋文宁		1	10	1.0	1.0