Nakagami-m信道RFID系统通信误码率研究

• 作者: 何怡刚 杨海 郭凤鸣
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 射频识别 Nakagami-m衰落信道 重复编码 标签错误率
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 所属期刊栏目: 网络、通信、安全
• 页码范围: 60-62
• 分类号: TN911.23
• 字数: 2320字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2012.09.018

摘要

随着RFID技术应用领域的增加,RFID系统性能的评估也日趋重要.为了评估RFID技术在衰落信道下的性能,分析了RFID系统中的调制与编码技术,通过分析反向散射调制的误码率,导出了Nakagami-m衰落信道下标签的错误率,给出了不同信道衰落参数和编码参数下的数值仿真结果.结果表明,衰落参数越大,重复编码次数越多,标签错误率越低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚		426	5127	34.0	51.0
2	杨海		3	6	2.0	2.0
6	郭凤鸣		21	39	4.0	4.0