一种超高频 RFID 标签天线结构分析

• 作者: 张贵中
• 来源期刊: 电子制作
• 关键词: 标签天线 芯片 共轭匹配
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 页码范围: 84-85
• 字数: 1768字
• 语种: 中文

摘要

本文对一种超高频 RFID 标签天线结构进行了仿真分析,优化后的标签天线在负载芯片时,功率反射损耗小于-10dB 的频率范围是900MHz-931MHz,我国和美国允许的频段都包括在内,并且在915MHz 达到最小值-37dB.标签天线能够全向辐射,其远场的增益是2.08dBi.文中讨论了天线各部分尺寸对天线性能的影响,为优化天线的阻抗提供了依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张贵中		1	0	0.0	0.0