光模块一般失效模式分类及两种新的失效模式

• 作者: 丁国庆 刘江华 李晶林 杨兰兰 胡长飞
• 来源期刊: 电子世界
• 学科: 工学
• 关键词: 光电子器件 光收/发模块 产品可靠性 失效模式
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 科研发展
• 页码范围: 69-70
• 分类号: TN929.1
• 字数: 3108字
• 语种: 中文

摘要

产品性能和可靠性是供应商和用户最关心的两个问题.由于设计、工艺制作和工程使用存在问题,一些产品会失效.介绍了光通信用光电子器件、模块的一般失效模式分类和常见失效模式；重点报告和分析了眼图多线和APD低温下饱和光功率偏小的失效模式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁国庆		15	15	2.0	2.0
2	胡长飞		11	11	2.0	2.0
3	李晶林		1	1	1.0	1.0
4	刘江华		1	1	1.0	1.0
5	杨兰兰		1	1	1.0	1.0