板级边界扫描测试多链优化配置方法研究

• 作者: 李广进 陈圣俭 高华 魏子杰
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 边界扫描 板级电路 多链优化配置
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 2622-2624
• 分类号: TP206
• 语种: 中文

摘要

为提高边界扫描测试效率,提出一种多链边界扫描测试的优化配置方法,其主要思想是按照边界扫描器件内部边界扫描单元数目的多少将芯片分别配置到多条扫描链中以使扫描链的长度尽量相等,从而减少扫描周期；测试过程可分成多个阶段,每个阶段至少有一个芯片完成测试,完成测试的芯片置于旁路以缩短扫描链的长度;通过计算验证该方法能够缩短电路板的测试时间,提高了测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈圣俭	装甲兵工程学院控制工程系	49	228	9.0	12.0
2	魏子杰	装甲兵工程学院控制工程系	13	22	3.0	4.0
3	高华	装甲兵工程学院控制工程系	6	14	2.0	3.0
4	李广进	装甲兵工程学院控制工程系	7	20	3.0	4.0