存储器模块测试系统的设计

• 作者: 余云 杨丽君 杨升 高德远
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 存储器模块 测试系统 数字波形发生器
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 41-43,46
• 分类号: TP302
• 语种: 中文

摘要

存储器模块上集成有多种类型的存储器,整个模块提供一致的总线访问接口;对存储器模块进行完整的测试是很有必要的,在分析存储器模块的故障模型和测试原理的基础上,给出了一种基于数字波形发生器的存储器模块测试设备结构,通过对March算法进行扩展,设计了一种适合对存储器模块进行测试的算法结构；系统提高了测试的故障覆盖率和效率,在应用中取得了较好的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高德远	西北工业大学航空微电子中心	166	1045	15.0	24.0
2	杨升	西北工业大学航空微电子中心	3	23	2.0	3.0
3	杨丽君	西北工业大学航空微电子中心	3	10	2.0	3.0
4	余云	西北工业大学航空微电子中心	2	9	2.0	2.0