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摘要:
为抑制短沟道效应和热载流子效应,提出了一种非对称HALO掺杂栅交叠轻掺杂漏围栅MOSFET新结构.通过在圆柱坐标系中精确求解三段连续的泊松方程,推导出新结构的沟道静电势、阈值电压以及亚阈值电流的解析模型.结果表明,新结构可有效抑制短沟道效应和热载流子效应,并具有较小的关态电流.此外,分析还表明栅交叠区的掺杂浓度对器件的亚阈值电流几乎没有影响,而栅电极功函数对亚阈值电流的影响较大.解析模型结果和三维数值仿真工具ISE所得结果高度符合.
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一种非对称双栅应变硅HALO掺杂沟道MOSFET阈值电压解析模型
应变硅
HALO掺杂沟道
非对称双栅
短沟道效应
异质栅非对称Halo SOI MOSFET
异质栅
SOI
阈值电压
解析模型
非对称 Halo 异质栅应变 Si SOI MOSFET 的二维解析模型*
非对称 Halo
异质栅
应变 Si
短沟道效应
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 非对称HALO掺杂栅交叠轻掺杂漏围栅MOSFET的解析模型
来源期刊 物理学报 学科 工学
关键词 非对称HALO掺杂 栅交叠轻掺杂漏 围栅MOSFET 解析模型
年,卷(期) 2012,(7) 所属期刊栏目 气体、等离子体和放电物理
研究方向 页码范围 536-543
页数 分类号 TN386.1
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 庄奕琪 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室 183 1168 15.0 22.0
2 包军林 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室 43 306 10.0 16.0
3 李聪 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室 9 42 4.0 6.0
4 张丽 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室 25 178 9.0 12.0
5 韩茹 西北工业大学航空微电子中心 4 22 3.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
非对称HALO掺杂
栅交叠轻掺杂漏
围栅MOSFET
解析模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
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