STA400TEP芯片在模拟电路BIT设计中的应用研究

• 作者: 徐磊 李广进 陈圣俭 高华 魏子杰
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: STA400TEP 模拟电路 BIT 边界扫描
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 2617-2618,2631
• 分类号: TP206
• 语种: 中文

摘要

在大规模集成电路中,模拟信号的测试是一个重点和难点;介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线标准和支持IEEE1149.4 标准的STA400TEP边界扫描芯片,对STA400芯片在模拟电路机内测试中的应用进行了研究,提出了一种基于子网络撕裂诊断法的边界扫描结构置入的测试性设计方法,并以某驱动电路为研究对象对此方法进行了实验验证,实验结果表明STA400TEP的置入能够实现电路板的可观性和可控性,能够准确地将故障定位到子网络中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈圣俭	装甲兵工程学院控制工程系	49	228	9.0	12.0
2	徐磊	装甲兵工程学院控制工程系	12	76	5.0	8.0
3	魏子杰	装甲兵工程学院控制工程系	13	22	3.0	4.0
4	高华	装甲兵工程学院控制工程系	6	14	2.0	3.0
5	李广进	装甲兵工程学院控制工程系	7	20	3.0	4.0