系统芯片的边界扫描测试与调试方法研究

• 作者: 建珍珍 颜学龙 黄文君
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 边界扫描 多片上TAPC结构 测试与调试
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 1199-1202
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

针对系统芯片的多内核结构违反边界扫描标准而导致不可测试的问题,IEEE 1149.7标准提出了多片上 TAPC结构的测试与调试方法；以该标准为依据,利用QuartusⅡ软件设计在测试与调试系统中具有关键作用的边界扫描测试控制器；重点阐明了多内核系统芯片的调试原理与调试流程、控制器的结构与作用等；仿真结果表明控制器能够产生符合标准的调试信号,具有良好的可行性与有效性,对系统的构建具有积极的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄文君	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	3	28	3.0	3.0
2	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
3	建珍珍	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	8	2.0	2.0