原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
针对微波辐射计定标源定标双站测量方案,提出了斜入射波作为照射源的思路.先通过计算斜入射角度与发射率之间的关系分析了斜入射方案理论上的可行性,再对特定的定标源模型的散射特性进行仿真,并对其波瓣产生机理进行了简单分析.对定标源散射的发射率展开了评估,分析发射率与采样距离以及采样间隔角度之间的关系,总结了最适合用于评估发射率的采样条件.对于给出的定标源和标定体模型,采用斜入射的方案可作为新的具有接近发射率真值的定标测试方案.
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内容分析
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文献信息
篇名 斜入射下微波辐射计定标源散射特性与发射率的仿真分析
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 微波辐射计 定标源 发射率 斜入射 采样面
年,卷(期) 2012,(11) 所属期刊栏目 军事通信
研究方向 页码范围 30-33,38
页数 分类号 TN925-34
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.11.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 苗俊刚 北京航空航天大学电子信息工程学院 73 247 9.0 12.0
5 刘大伟 北京航空航天大学电子信息工程学院 8 5 1.0 1.0
6 梁文乐 北京航空航天大学电子信息工程学院 1 0 0.0 0.0
7 李萱 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
微波辐射计
定标源
发射率
斜入射
采样面
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
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