分类树方法在集成电路设计功能验证中的应用

• 作者: 冯晓 徐金甫 戴紫彬 李伟
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 分类树方法 功能验证 测试集 覆盖模型 集成电路设计
• 年，卷（期）: 2012,（21）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 232-236
• 页数: 5页
• 分类号: TP331
• 字数: 3034字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2012.21.062

摘要

功能验证是制约集成电路设计发展的主要瓶颈,针对功能验证中存在的测试集设计难度大及覆盖模型精度低等问题,提出一种基于分类树方法的高效测试集生成方法及功能覆盖模型搭建方法,将验证方法应用于模加/模减单元的功能验证中.结果证明,运用分类树方法管理测试向量和搭建覆盖模型,可以显著提高验证完备性和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴紫彬	解放军信息工程大学电子技术学院	106	436	10.0	16.0
2	徐金甫	解放军信息工程大学电子技术学院	38	186	7.0	12.0
3	冯晓	解放军信息工程大学电子技术学院	7	21	2.0	4.0
4	李伟	解放军信息工程大学电子技术学院	42	138	7.0	10.0