微波注入实验用高隔离度双工器的研究

• 作者: 李家胤 汪海洋 胡标
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 高隔离度 双工器 注入实验 插入损耗
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 制控与驱动
• 页码范围: 205-207,210
• 分类号: TN919-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.04.064

摘要

微波注入实验要求微波注入电路和效应监测电路的接入不影响正常的电路器件工作状态,同时要求注入电路隔离度足够大.在此设计了一种高隔离度微波双工器0～800MHz和1.4～4.5GHz,两信号通道内插入损耗小于0.2dB；0～400MHz和1.5～4.5GHz两信号通道隔离度大于50dB.这种微带线型双工器结构紧凑、研制周期短、性能稳定已经在微波效应注入实验系统中获得良好的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李家胤		44	297	11.0	14.0
2	汪海洋		14	40	4.0	5.0
3	胡标		9	26	3.0	4.0