AT89C51单片机的微控制测试器开发

• 作者: 刘大伟
• 来源期刊: 无线互联科技
• 关键词: 单片机 传感器 控制电路 编程
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 设计分析
• 页码范围: 113,115
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

单片机技术的出现则是给现代工业测控领域带来了一次新的技术革命.目前,单片机以其体积小、重量轻、抗干扰能力强、对环境要求不高、高可靠性、高性能价格比、开发较为容易等优点在诸多领域得到广泛的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘大伟		5	2	1.0	1.0